Nanoescale Characterization of ferroelectric thin films

dc.date.accessioned	2019-03-04T04:16:49Z
dc.date.available	2019-03-04T04:16:49Z
dc.date.issued	2005
dc.identifier.uri	http://repositorio.colciencias.gov.co:80/handle/11146/33614
dc.format.extent	45 p.
dc.title	Nanoescale Characterization of ferroelectric thin films
dc.description.projectid	IP 1106-05-12408
dc.format.other	grasf.,
dc.format.dimensions	28 cm.
dc.description.content	Durante el desarrollo del proyecto pudimos optimizar las condiciones de crecimiento de películas delgadas ferroelectricas del compuesto Pb (Zr, Ti) o3, PZT en el sistema de pulverización catódica soportada con campo magnético a altas presiones de O2 (80%) / Ar (20%) y a temperatura del sustrato de 600 C.
dc.creator.author	Prieto P. Pedro
dc.subject.lemb	FERROELECTRICIDAD
dc.subject.lemb	PULVERIZACION
dc.subject.lemb	CAMPOS MAGNETICOS
dc.subject.lemb	TEMPERATURA
dc.subject.lemb	MANOMETROS
dc.publisher.place	Cali :
dc.publisher.name	Universidad del Valle,

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